lieber einen Quarzhalbschattenapparat. 
271 
Die Bedingungen dafür, daß die Anordnung möglichst em- 
r 
pfindlich sein soll, sind: (l)e muß klein sein, (2) sin 7t muß 
A 
möglichst groß sein. Man schließt daraus, daß die Kristallplatte 
T . , , 
eine solche Dicke haben muß, daß sin?t -- - = 1 wird; d. h. die 
A 
Kristallplatte muß eine Halbvvellenlängeplatte sein. 
Derselbe Schluß gilt , falls die Kristallplatte zwischen der 
Quarzdoppelplatte und dem Analysator eingeschaltet wird. Dann ist 
J, = i cos s 
n 
f ’ cos 2 (« — (f ) sin' 2 (f sin 2 (f — <p) cos 2 <p 
-(- £ sin 2 (f sin 2(e — <p) cos 2 n 
J 2 = i cos 2 1 J cos 2 (« + <p) sin 2 ip + sin 2 (f + cp) cos 2 <p 
r \ 
— i sin 2 cp sin 2 (e + </>) cos 2 n — j 
J, — J, = i cos 2 e sin 2 e sin 4 cp . sin 2 n — 
und die gleichmäßige Helligkeit J 0 " des F eldes für ff — 0 oder n / 2 wird 
J 0 " = i sin 2 £ . cos 2 e, 
worin der Faktor cos 2 f nahezu = 1 ist. 
Die Quarzdoppelplatte darf also mit dem Polarisator 
oder mit dem Analysator verbunden werden. 
Wichtig ist , daß die Kulilage des Analysators unabhängig 
bleibt von dem Azimut der Trennungslinie der Quarzplatten; sie 
hängt nur von der Lage des Polarisators ab. Wenn der Analy- 
sator sich in seiner Nulllage befindet, kann man die Quarzplatte 
beliebig um die Sehlinie drehen, ohne die gleichmäßige Helligkeit 
des Feldes zu stören. Man kann sie an dem drehbaren Tische 
des Polarisationsapparates befestigen, den zu untersuchenden Kri- 
stall direkt darauf legen, und beide Präparate zusammen drehen. 
Diese Anordnung bietet einen großen Vorteil gegenüber anderen 
Halbschattenapparaten dar. Es kommt häufig vor, daß der Kristall 
oder sein Spaltstück eine etwas verlängerte Gestalt hat und eine 
seiner Polarisationsrichtungen sehr wenig zur Längsrichtung geneigt 
ist. Wenn man in diesem Falle mit einem LrppicH’schen drei- 
teiligen Halbschattenapparate operiert, so wird das Gesichtsfeld 
unsymmetrisch in bezug auf den Kristall. Aber die doppelte oder 
dreifache Quarzplatte kann jederzeit so gestellt werden , daß ihre 
Trennungslinie senkrecht zur Längsrichtung des Kristalls liegt. Diese 
Anordnung ist besonders zu empfehlen beim Arbeiten mit Mikroskopen. 
IV. 
Beleuchtet man den Polarisationsapparat mit zusammengesetztem 
Licht, so ist w r egen der Dispersion des Drehungsvermögens im Quarz 
