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S. Nakamura, 
Da in Wirklichkeit der Spalt unvergleichlich schmäler ist und 
der Unterschied der Wellenlängen der beiden D-Linien nur 0,000b u 
beträgt, so ergibt sich: 
Die Messungen des Drehungsvermögens mit dem Quarzhalb- 
schattenapparate sind streng untereinander und praktisch auch mit 
den Messungen des LippicH’sclien Apparates vergleichbar. 
VII. 
Wir gehen über zur Messung von Auslöschungsschiefen. 
Nach Gleichung (6) ist: 
r 
J, — J 2 = Zi sin 2 e . sin 4 <p sin 2 7i — = 0, 
wo i, s, <p und r Funktionen von /. sind. Wir haben schon auf 
S. 271 gesehen, daß die Dicke der Kristallplatte der Bedingung 
r i 
sin n — = 1 
A 
entsprechen muß, um die empfindlichste Einstellung zu bekommen. 
Wenn man die Platte nicht zu dünn nimmt, so hat man im sicht- 
baren Spektrum verschiedene Wellenlängen / , für welche diese 
Bedingung erfüllt ist. Wir nehmen daher an, daß wir nur ein 
solches Gebiet des Spektrums benutzen, das jener Bedingung ge- 
nügt, und erinnern daran, daß e und cp klein sind; dann läßt die 
letzte Gleichung sich schreiben : 
Z i t (f = 0, (14) 
wo man: 
■ £ = a — j— b A 
(J 3/ — j— b' A 
setzen kann. Um zu sehen, welcher Wellenlänge / 0 die Einstellung 
des Kristalls auf gleichmäßige Helligkeit entspricht, schreiben wir 
0 = a' + b' A„ 
und ünden unter der Voraussetzung, daß i konstant ist, 
*0 = 2 Ui + K ) «Ui — - 4 ) • 1 1 2 • 
i i 1 
Diese Gleichung stimmt mit (12) überein. Wir schließen daraus: 
Der Quarzhalbschattenapparat ist zur Messung von Auslöschungs- 
schiefen ebenso zuverlässig wie der LippiCH’sche Apparat. 
VHI. 
Wenn man ausschließlich mit Na-Licht arbeiten will, so kann 
man statt einer doppel- oder dreifachen Platte eine einfache Quarz- 
platte mit scharfen Kanten benutzen, die nur einen Teil des Ge- 
