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M. Berek, Zur Messung der Doppelbrechung 
Wenn wir den Wurzelausdruck näher untersuchen, so zeigt 
sich, daß er 0 wird, für d a = d (f } = d <y 2 = 0, sonst aber stets 
imaginär ist, sobald wir J = 0 annehmen. Das besagt, daß nur 
für d o = d (f x = d cp 2 = 0 vollkommen dunkle Interferenz- und 
Kompensationsstreifen möglich sind. Andernfalls spielt bei der 
Einstellung die Stelle minimalster Helligkeit die Bolle des 
Kompensationsstreifens. Dann hat das Helligkeitsverhältnis j einen 
solchen Wert, daß A 2 -f 4 B C = 0 ist, d. h. der fehlerhafte 
Betrag des gemessenen Gangunterschiedes ist 
d r = 
A 
arCtg 2C 
28) 
Bis dahin gilt die Gleichung streng für jedes da, d qr, , d yv 
Wir können die Berechnung wesentlich vereinfachen und die 
Formel leichter diskutieren, wenn wir uns auf kleine Werte von 
da, d d if 0 , also auf Fehler beschränken. Dann ist mit sein- 
großer Annäherung C = 1 und ebenso der cos der Winkel gleich 1 . 
Setzen wir noch für den sin den Bogen, so erhalten wir schließlich 
, ä | . 2 Ti r 
dr = — arc tg sin — - — 
71 I X 
(d <f,— d y,) |^2 d (f t -|- (d (f s - d<j,) cos — 
29) 
Aus dieser Gleichung folgern wir: 
Die Justierungsfehler beeinflussen die Lage des 
Kompensationsstreifens nicht, wenn der zu messende 
Gang unter schied ein ganzes (gerades oder ungerades) 
Vielfaches einer halben Wellenlänge des benutzten 
Lichtes ist. 
Für einen beliebigen Gangunterschied wird der 
richtige Wert gemessen, wenn die Fehler in der 
Orientierung der Kristallplatte und des Kompen- 
sators gleich groß und gleichsinnig sind. In den 
anderen Fällen ist der Kompensationsstreifen um 
einen Betrag nach höheren oder geringeren Werten 
der Doppelbrechung verschoben und zwar um so 
mehr, wenn die Fehler dr/' 1 und d(p 2 entgegen- 
gesetztes Vorzeichen haben. 
Der Fehler da in der Null-Stellung des Analy- 
sators ist für die Lage des Kompensationsstreifens, 
ohne Bedeutung und wirkt wesentlich dahin, daß sich eine 
allgemeine Helligkeit den Interferenzstreifen überlagert. Er be- 
einflußt jedoch die A us lös chun gsla ge 1 der Kristall- 
platte, daher auch ihre richtige Einstellung in die Diagonallage 
und somit indirekt den gemessenen Gangunterschied. 
1 M. Berek, N. Jahrb. f. Min. etc. Beil.-Bd. XXXIII. p. 615. 1912^ 
