196 J. Koenigsberger, Zur optischen Bestimmung der Erze. 
Vertikalilluminator d. i. ein drehbares, totalreflectirendes recht wink- 
liges Prisma P angeschraubt, an diesem das zur Untersuchung verwandte 
Objektiv 0 (am besten eines von 3,h — 4 mm Brennweite; die Ver- 
grösserung bei Anwendung des unten angegebenen Fernrohrs beträgt 
dann 40 — 200). In die Hülse des Vertikalilluminators wird mit Kleb- 
wachs eine SAVART’sche Platte S (zwei Kalkspathplatten unter 45° 
gegen die Axen geschnitten, gekreuzt gelegt, von 6 mm Dicke) so 
orientiert, dass die Streifen in der Mitte des Gesichtfeldes erscheinen. 
Darüber wird der Innennicol N eingeschoben und als Ocular ein 
kleines Fernrohr, dessen Vergrösserung sich nach der Dicke der 
Platte richtet, eingesetzt. (Für die oben angegebene Dicke der 
SAVART’schen Platte: Vergrösserung des Fernrohrs 7fach, Brenn- 
weite des Objektivs 5,3 cm.) 
Zur Beleuchtung dient das mit einer Linse concentrirte Licht 
eines Auerbrenner oder eine Natriumflamme. Tageslicht ist nicht 
zu verwenden, da es stets schon etwas polarisirt ist. 
Auf den Mikroskoptisch wird zunächst ein gewöhnlicher 
Spiegel (Amalgam, Silber) gelegt, im reflektirten Licht dürfen die 
Streifen der SAVART’schen Platte nicht sichtbar sein. Wird jetzt 
mit Klebwachs eine Fläche eines anisotropen Krvstalls (z. B. Eisen- 
glanz, Antimonglanz, Markasit) justirt, bis von dem breiten Büschel 
des an ihm reflektirten Lichtes wieder ein Theil in das Mikroskop 
zurückkehrt, so bemerkt man die farbigen bezw. schwarzen Inter- 
ferenzstreifen. Dadurch vermag man sofort z. B. Eisenglanz von Magne- 
tit, Markasit von Pyrit zu Unterscheiden. Dreht man den Mikroskop- 
tisch, so verschwinden diese Streifen in vier um 90° verschiedenen 
Stellungen, nämlich dann, wenn die Schwingungsrichtung des reflek- 
tirten polarisirten Anteils um 45° gegen die Schwingungsrichtungen 
der SAVART’schen Platte geneigt ist. Dadurch kann man auch die 
optische Orientirung gegen die krystallographische feststellen, also 
etwas der Auslöschungsschiefe Analoges messen. Ist die Fläche 
gerade zufällig senkrecht zu einer optischen Axe, so wird die Platte 
auf dem FEDOROw’schen oder dem KLEiN’schen Theodolithapparat 
um einen Winkel von etwa 30° geneigt, die Drehungsaxe muss parallel 
einer der Schwingungsrichtungen der SAVART’schen Platte sein. 
Man lässt dann seitlich Licht auf die Platte fallen, so dass ein Theil 
des reflektirten in das Mikroskop gelangt. Dieses Licht wird im 
allgemeinen bei isotropen und anisotropen Körpern theilweise pola- 
risirt sein, aber bei letzteren werden, wenn man die Platte in ihrer 
Ebene dreht, je zwei Maxima und Minima bemerklich, die Inter- 
ferenzstreifen werden abwechselnd deutlicher und schwächer. Die 
Unterscheidung optisch einaxiger und optisch zweiaxiger Substanzen 
vermittelst der Eigenschaften des reflektirten Lichtes ist theoretisch 
ebenfalls möglich, bietet aber praktisch mannigfache Schwierigkeiten, 
inbesondere wegen der Discordanz in der Orientirung der Haupt- 
absorptions- und Hauptbrechungsrichtungen. Oberflächenschichten 
stören bei allen oben angegebenen Beobachtungen gar nicht; sie 
