Über die Interferenzfähigkeit von Spektrallinien. 
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beeinflußt nicht die Lage und Schärfe der Interferenzen, son- 
dern setzt nur deren Intensität herab 1 ). 
Die Breite im Spektrophotogramm , welche Al in der 
Skala der Wellenlängen entspricht, ergibt sich ohne weiteres 
aus der Braggschen Beziehung 
(18) 2 d sin cp k = Je 1, 
wo Je die Ordnung des Spektrums, 9 o k den von der Kristall- 
fläche aus gemessenen sogenannten „ Glanz winkel“ in der &-ten 
Ordnung und d die Gitterkonstante bedeutet. Durch Differen- 
tiation erhält man für die Winkelhalbweite 
Je Al 
Acpk = 0 , 
2 d cos cp k 
falls der Kristall fest steht; ist dagegen der Spalt fest und der 
Kristall beweglich, wie dies gewöhnlich der Fall ist, so muß 
die Winkelbreite verdoppelt werden: 
A <p k 
Je Al 
d cos cp k ' 
Bezeichnen wir schließlich mit r die Entfernung vom Kri- 
stall zur photographischen Platte, so wird die Linienbreite auf 
der letzteren 
(19) 
d = r • A cp k = 
JerAl 
d cos cp k ‘ 
Für d = 2,814 • 10 -8 cm (Steinsalz), r = 16 cm (der An- 
ordnung?von Siegbahn und Friman 2 ) entsprechend), Je = 1 
und kleine Glanzwinkel (cos cp k = 1) ergeben sich für ö die 
numerischen Werte 0,057 mm für K a , 0,11 mm für L a , 0,17 mm 
für M a . In Wirklichkeit sind jedoch die Winkel cp auch in 
der ersten Ordnung nicht sehr klein und für leichtere Elemente 
sogar ziemlich groß; z. B. hat L a für Silber 1 = 4,146 A, 
9?j = 47° 27', 30, was einer Halbweite von 0,16 mm ent- 
spricht. Durch geeignete Wahl von Je und d kann man gün- 
stige Bedingungen für eine Prüfung der Beziehung (19) erreichen. 
*) Vgl. M. v. Laue, Enzykl. der Math. Wiss., V, 24, p. 478. 
2 ) Ä M._Siegbabn y und E. Friman, Ann. d. Phys., 49, p. 611, 1916. 
