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Angewandte Krystallographie. 
mehrfacher Hinsicht ein grosses Bedürfniss der 
senschaft, und diesem Bedürfnisse ist durch W®* 
stons Reiiexionsgoniometer vollkonunen abgehoJ^®” 
worden. 
§. 676. 
Grundlage der Messungen mittels Reflexion des Lichtes. 
Um den Gebrauch dieses vortrefflichen Instruh*®'' 
tes in seiner ganzen Einfachheit aufzufassen, 
wir sogleich die vollkommene Erfüllung deijeniS 
Bedingungen voraussetzen, auf welche es dabei 
kommt, und welche freilich in praxi zum Theil ” _ 
näherungsvveise zu erfüllen sind, aber auch nur 
-Vlit' 
herungsweise erfüllt zu seyn brauchen. 
Es sey MNR, Fig. 791, die Ebene, und C der _ 
telpunct eines in zweimal 180“ eingetheilten , 
einem Nonius versehenen, und um seine Axe ^ 
baren Kreises. Die zn messende Kante werde ' 
zwei ebenen und gut spiegelnden Flächen gebil^^*| 
und der Krystall selbst sey dergestalt entweder 
dem Kreise unmittelbar, oder auf einem an dess^j; 
verlängerter Axe angebrachten Krystallträger hefes*'|'^j 
dass die Kantenlinie mit der geometrischen A^e 
Kreises zusamiuenflillt. Diese letztere Bedingung 
sich in die zwei aufläsen, dass die Kantenlinie 
1) normal auf der Ebene des Kreises, odef^ 
stirt, und 
2) c e n t r i s c h in Bezug auf die Peripherie des 
oder centrirt 
ses, 
Jif 
sey. Sind beide Bedingungen erfüllt , so werde" 
Projectionen beider Flächen auf die Ebene des 
ses durch zwei Linien wie CI) und CjE darge*^® 
\'on irgend einem in der verlängerten EbeP®^^^,. 
Kreises helindlichen, aber sehr entfernten fjil- 
A sollen Lichtstrahlen auf die Krystallfläche (•> ( 
len; der auf das äusserstc Element dieser Fla"^*® 
