384 Angewandte Krystallographie. 
tigkeit hat, wenn jene Entfernungen etwa 100 * 
gross sind als e. Nimmt man a = b , so wird 
sin S — —{sin f' — sin tp) cos 
§. 693. 
Folgerungen aus dem Werthe von sinS. 
Aus dem, unter Voraussetzung gleicher Entferi**”' 
gen beider Objecte, folgenden Werthe 
sin S = —{sin — sin q>) cos 
ergeben sich nachstehende Resultate: 
1) Der Fehler d wird positiv oder negativ (ad**’ ,, 
oder subtractiv), je nachdem cp < oder z' 
er wird = 0, wenn cp = cp'. Das VerhäU‘”| 
der Winkel cp und q>' bestimmt sich aber 
dem Abstande beider Krystallflächen voD 
y' 
mathematischen Axe des Instrumentes , 
nach der Exccntricität jeder ein«® 
jc'‘ 
Krysta 11 fläche; nennen wir diese Exc®” 
citäten der ersten und zweiten Fläche t 
so ist 
rp > = <( cp', wenn £> = <;«' 
Der Fehler der Excentricität der Kante 
V®'' 
2) Wenn ip = 90°, so wird d=:0; wieWO 
hl 
rizonte gewählt werden dürfen. 
3) Da der Factor {sin cp' — sin cp) cos 
se 
schwindet also, wenn beide Flächen 
excentrisch sind; leider scheint sich 
die Erfüllung dieser Bedingung in praA 
wohl erreichen zu lassen. . ,ii» 
die Erfüllung dieser Bedingung nicht 
ist, so lehrt sie uns doch, dass d um 
ner wird, je mehr sich Ip einem rechte** 
kel nähert; woraus sich die Regel ergiehh jp- 
die Gegenstände nicht zu nahe a"* 
ii" 
