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Reine Krystallographie. 
Erstes Haiiptstück. 
Rle me ntar lehre. 
Erster Abschnitt. 
Analytische Geometrie der geraden Linie und Ebene, 
als Grundlage der Krystallographie. 
§. 1 . 
Wesen und Verschiedenheit der Bestimmungsmethoden. 
Die Bestimmung der Lage gegebener Puncte, Linien 
und Flächen ist jederzeit relativ, d. h. sie findet 
nur beziehungsweise auf andere, gegebene oder will- 
kürlich gewählte Puncte, Linien oder Flächen Statt. 
Nach der verschiedenen Art und Lage dieser letzte- 
ren giebt es verschiedene Bestimmungsmetlioden, wel- 
che jedoch alle auf die Bestimmung von Puncten 
hinauslaufen, weil jede Linie als eine stetige Nach- 
einanderfolge, und jede Fläche als eine stetige N a c h- 
und Nebeneinanderfolge von Puncten betrachtet wer- 
den kann. Wie übrigens auch diese Methoden be- 
schaffen seyn mögen, so werden sich bei ihrer An- 
wendung immer die zwei Fälle unterscheiden las^n, 
da die zu bestimmenden Linien und Puncte in einer 
Ebene enthalten sind, oder nicht; und weil im erste- 
ren Falle die Betrachtungen viel einfacher werden, so 
ist es zweckmässig, mit ihm den Anfang zu machen. 
Erstes C a p i t e l. 
Punct und Linie in der Ebene. 
§. 2 . 
Allgemeine Bestimmungsmethode. 
Sind uns nun in einer Ebene mehre Puncte P, 
P' , P" u. s, w. (Fig. l.) gegeben, so ist eine der be- 
