465 
Voor een plaatje parallel aan {100}: 
in de richting der 6-as op 112.04 inM. v. h. middelpunt C det tig. 
„ „ ,, „ Z?-as „ 111.95 mM. „ „ „ „ „ „ 
Voor een plaatje parallel aan {010}: 
in de richting der C- as op 100.08 mM. v. h. middelpunt C der tig. 
„ „ „ „ A-aa „ 89.32 mM. „ „ „ „ „ „ 
En voor een plaatje parallel aan {001} : 
in de richting der H-as op 89.25 mM. v. h. middelpunt C der tig. 
,, ,, ,, _ö-as ,, 99.92 mM. ,, ,, ,, ,, ,, ,, 
Berekent men nu uit de gemeten afstanden der vlekken op het 
fotografische negatief van den anhydriet, met A = 50 mM. eerst 
tg%p, daaruit <p, en vervolgens 100 tg<p, dan blijkt het, dat alle 
deze afstanden iets kleiner zijn, dan de overeenkomstige evenredige 
onderdeelen der zooeven genoemde fundamenteele afstanden in de 
richtingen der resp. assen ; en wel, dat alle die afstanden in onge- 
veer dezelfde verhouding te klein zijn. 
In het geval van de plaat parallel aan {100} b.v. vonden wij 
voor enkele vlekken : 
in de richting der C-as: 31.2 mM.; 24.1 mM. en 19.9 mM. als 
afstanden ; en 
in de richting der S-as : 27.4 mM.; en 21.8 mM. 
Daarentegen worden voor deze punten de volgende waarden 
berekend : 
in de richting der C-as: 32 mM.; 24.8 mM. ; en 22.4 mM. 
in de richting der B- as: 28 mM. ; en 22.4 mM. 
Het blijkt nu, dat metingen en berekening met elkaar in veel 
betere overeenstemming zijn, als men A tijdens de opname kleiner 
onderstelt, en wel cirka 48,3 mM. Daar nu de dikte van het plaatje 
in casu juist 1,64 mM. is, zoo blijkt daaruit dus, dat niet de afstand 
van het voorvlak van ’t kristalplaatje tot aan de fotografische plaat, 
welke steeds 50 mM is, in rekening moet gebracht worden ter bere- 
kening der hoeken (p, maar in dit geval de afstand van de fotogra- 
fische plaat tot aan het achten’ lak van ’t kristalplaatje. 
In andere dergelijke gevallen nu vonden wij telkens, dat de onder- 
stelling A = 50 mM. bij de opname altijd tot te kleine waarden voor 
de projektie-afstanden der vlekken voert, — als bij het projekteeren 
n.1. OP steeds =100 mM. wordt genomen; en dat voorts meestal 
eene genoegzame overeenstemming van berekening en meting wordt 
verkregen, als men A bij de fotografische opname (50 — \ - d) mM. 
onderstelt, wanneer daarin d de dikte van het kristalplaatje is. (Zie 
fig. 3 — 5, voor anhydriet). 
Deze invloed van de dikte van het plaatje blijkt nög duidelijker 
