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HI. Messung von Silberschichtdicken bei Plattenstückeil, 
welche gleiche Belichtungen von der Schichtseite resp. von der 
Glasseite erhalten hatten. Die obere Zahlenreihe bezieht sich 
auf die von der Schichtseite, die untere auf die von der Glas¬ 
seite belichteten Stücke (Vergr. 870). 
Entwicklungs- Belichtungsdauer aus 2 ra Entfern, mit Normalkerze 
Zeit 
5 sec. 
10 sec. 
20 sec. 
30 sec. 
60 sec. 
30 sec. 
0,0115 
0,0117 
0,0137 
0,0143 
0,0162 
0,0059 
0,0077 
0,0114 
0,0118 
0,0140 
60 
0,01191 
0,0117 
0,0126 
0,0138 
0,0161 
0,0089 
0,0103 
0,0120 
0,0133 
0,0149 
85 
0,0121 
0,0127 
0,0137 
0,0148 
0,0155 
0,0093 
0,0109 
0,0110 
0,0191 
0,0176 
110 
0,0128 
0,0129 
0,0131 
0,0132 
0,0136 
0,0120 
0,0126 
0,0123 
0,0153 
0,0171 
Die durchschnittliche Korngrösse war für die von ver¬ 
schiedenen Seiten belichteten Stücke identisch. 
IV. Messung der Silberschichtdicke bei solarisierten Platten¬ 
stücken (Vergr. 1000). 
Ent- Belichtet mit Tageslicht 
wicklungsz. 
1 sec. 
2 sec. 
3 sec. 
4 sec. 
5 sec. 
35 sec. 
0,0084 
0,0080 
0,0086 
0,0087 
0,0078 
48 
0,0111 
0,0106 
0,0103 
0,0110 
0,0113 
60 
0,0125 
0,0130 
0,0135 
0,0140 
0,0138 
85 
0,0147 
0,0163 
0,0182 
0,0196 
0,0181 
98 
0,0151 
0,0164 
0,0163 
0,0165 
0,0154 
110 
0,0140 
0,0137 
0,0138 
0,0122 
0,0120 
Entwick- 
lungsz. 5 
10 
Belichtet mit Tageslicht 
15 20 25 45 85 120 
150 175 
110s. 0,0119 0,0168 0,0206 0,0192 0,0154 0,0163 0,0147 0,0195 0,0182 0,0161 
V. Korngrösse bei primär fixierten, 17 Stunden lang mit 
silbersalzhaltigem Entwickler hervorgerufenen Plattenstücken 
(Apollo-Platte); belichtet aus 2in Entfernung mit Normalkerze. 
