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4. 4. 1918 
in Gebrauch waren, hatten vielfach große Mängel. 
Sie ließen häufig in bezug auf Planparallelismus 
und die richtige Lage der optischen Achse viel zu 
wünschen übrig. Ferner waren sie oft optisch un- 
rein; denn der Quarz, der ein so einwandfreies Ma- 
terial zu sein scheint, zeigt bei gründlicher Unter- 
- suchung sehr oft erhebliche Fehler. Es ist durch- 
aus nicht leicht, kleine optisch vollkommen homo- 
gene Platten zu erhalten; größere tadellose Stücke 
zu bekommen ist fast unmöglich. Außerdem waren 
die Quarzplatten gewöhnlich in ihren Fassungen 
_ festgekittet, wodurch Fehler verursachende Span 
_ nungen entstanden. Die der Reichsanstalt einge- 
- sandten Quarzplatten müssen von allen diesen Män- 
_ geln frei sein, wenn über sie ein Prüfungsschein 
ausgestellt werden soll. Sie lassen sich dann mit 
Hilfe des in dem letzteren mitgeteilten Drehungs- 
wertes mit großer Zuverlässigkeit zur Kontrolle der 
 Saccharimeter verwenden. So bildet denn auch die 
Prüfung von Quarzplatten auf ihre Güte und ihren 
- Drehungswert einen dauernden Arbeitsgegenstand 
- des optischen Laboratoriums. 
4 Auch für die Tätigkeit der ‚Internationalen 
Kommission für einheitliche Methoden der Zucker- 
_ untersuchung“ waren die Arbeiten der Reichsanstalt 
_ yon Wichtigkeit, so z. B. bei dem Übergang zu der 
| vorher angegebenen Definition der Normal-Zucker- 
- lösung von der ursprünglichen, die auf einer ande- 
ren Normaltemperatur und den sog. Mohrschen 
_ Kubikzentimetern beruhte. Ferner wurde eine 
_ größere Anzahl von Quarzplattensätzen für die Mit- 
glieder der Internationalen Kommission in der 
 Reichsanstalt untersucht. 
Noch auf einem anderen Gebiete wurde die Hilfe 
der Reichsanstalt von der Zuckertechnik bean- 
 sprucht. In ihr hat sich seit einigen Jahren zur Be- 
_ stimmung des Prozentgehaltes an festen Stoffen 
oder an Trockensubstanz bei den im Verlaufe der 
_ Zuckerherstellung zu untersuchenden unreinen 
| Zuckerlösungen das Abbesche Refraktometer einge- 
| führt, mit dem man schnell und mit geringer Sub- 
stanzmenge den Brechungsexponenten bestimmt. 
Man nimmt dabei an, daß die festen, den Zucker 
verunreinigenden Stoffe der Lösungen den Bre- 
-chungsexponenten annähernd ebenso verändern wie 
der Zucker. Um beim Gebrauch nicht Tabellen be- 
nutzen zu müssen, sollten diese Apparate mit einer 
für 20° gültigen Wasserprozentskala versehen wer- 
den, die streng für den Fall gilt, daß die Lösung 
nur reinen Zucker enthält. Die Reichsanstalt über- 
_ nahm nun die Aufgabe, das Brechungsvermögen 
reiner Zuckerlösungen für Konzentrationen bis zu 
_ 66 % und für einen Temperaturbereich von 10° bis 
_ 36° mit einer Genauigkeit von 2 Einheiten der fünf- 
ten Dezimale zu bestimmen. Nach den Ergebnissen 
dieser Untersuchung werden die Wasserprozent- 
skalen bereits angebracht. Wird bei anderen Tempe- 
 raturen als 20° gearbeitet, so müssen an den An- 
gaben des Refraktometers Korrektionen angebracht 
werden, die durch die Versuche der Reichsanstalt 
festgelegt sind. 
Es gelang ferner, das Refraktometer für die 
Zwecke der Zuckertechnik wesentlich zu verein- 
fachen und zu verbilligen, indem in der Reichsan- 






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Brodhun; Die Physikalisch-Technische Reichsanstalt. 323 
stalt ein Zuckerrefraktometer konstruiert wurde, bei 
dem die beiden sich entgegengesetzt drehenden Kom- 
pensatorprismen, die zur Achromatisierung der Ein- 
stellungslinie dienen, durch ein festes ersetzt wer- 
den, so daß die Kompensationseinstellungen fort- 
fallen. Diese Vereinfachung bringt noch weitere 
Vorteile in bezug auf die Widerstandsfähigkeit des 
verwendeten Glases und die Skalenlänge mit sich. 
Auch über das Brechungsvermögen anderer Sub- 
stanzen wurden Untersuchungen ausgeführt. So 
wurde bei Gelegenheit der an anderer Stelle er- 
wähnten Versuche mit dem Abbe-Fizeauschen Dila- 
tometer die Lichtbrechung von verschiedenen Gasen 
(Luft, Wasserstoff, Stickstoff, Helium) bei Zimmer- 
temperatur und bei sehr tiefen Temperaturen be- 
stimmt. Ferner wurden über das Lichtbrechungs- 
vermögen der für Strahlungsmessungen so wichtigen 
Stoffe Quarz und Flußspat genaue Messungen aus- 
geführt. 
Die erwähnte Prüfung der Saccharimeterquarz- 
platten auf Ebenheit und Parallelität der Flächen 
geschieht durch die Beobachtung der Fizeauschen 
Interferenzstreifen mit einer hierfür und für viele 
andere Prüfungen völlig ausreichenden Genauigkeit 
von etwa 0,21. Bei der sehr großen Fertigkeit der 
Technik in der Herstellung planer Flächen aber und 
bei den hohen Anforderungen in bezug auf Planheit, 
die für andere Zwecke, z. B. für die später zu be- 
sprechende Interferenzspektroskopie, gestellt werden, 
genügt diese Genauigkeit bisweilen nicht. Es wurde 
deshalb eine wesentlich genauere Methode ausge- 
arbeitet, bei der man die Dickenunterschiede einer 
möglichst parallelen Luftschicht, die von der zu 
untersuchenden Fläche und einer Vergleichsfläche 
begrenzt wird, mit Hilfe der von dieser Luftschicht 
gebildeten Haidingerschen .Interferenzringe be- 
stimmt. Es werden dann die Radienänderungen ge- 
messen, die ein solcher Ring infolge veränderter 
Schichtdieke erfährt, wenn man das Fernrohr, in 
dem er entsteht, längs einer Geraden über die Luft- 
schicht hinführt. Auf diese Weise können Ab- 
weichungen von der Ebenheit gemessen werden, die 
nur ein milliontel Millimeter betragen, also von der 
Größenordnung eines Gasmoleküls sind. 
Mit diesem Apparat wird zurzeit die technisch 
wichtige Frage nach der zeitlichen Veränderung von 
planen Glasflächen studiert. Als Ergebnis, welches 
zugleich zeigt, wie genau solche Planflächen heute 
hergestellt werden können, sei folgendes erwähnt. 
Für die letztgenannten Versuche sind von der Firma 
Carl Zeiß in Jena drei Glasplatten und eine Quarz- 
platte geliefert worden. Die Abweichung von der 
Ebenheit der Fächen ist derart, daß diese ange- 
nähert Teile von Kugelflächen mit sehr großem 
Radius bilden. Die Radien nun betragen bei der 
am wenigsten ebenen Fläche etwa 10, bei der besten 
etwa 510 km. 
Sowohl für die Technik wie für die Wissen- 
schaft wichtige Ergebnisse lieferte eine Reihe von 
wetalloptischen Untersuchungen. Zunächst wurde 
das Reflexionsvermögen bestimmt, indem die Menge 
des nahezu (bis auf etwa 4°) senkrecht zur Fläche 
reflektierten Lichtes für Licht verschiedener Wel- 
lenlänge gemessen wurde, und zwar nicht allein für 
