OE 
2% Serie. 
Microscopio I (inferiore)  1Pute — 013255 
) TIA (SUperiore) RI CIONI 
3 Serce. 
Microscopio I (inferiore) 1r®te — 01.3302 
” TI (superiore) 1 ——0. 8511 
SX. — Misura delle ampiezze d’oscillazione. 
Una modificazione notevole venne introdotta nell’apparecchio per la misura delle 
ampiezze l'oscillazione (V. M. S XX). Praticata una finestra rettangolare AB (V. figure) 
nel muro di sostegno dei microscopî (nella fig. 1° della tavola finale essa è disegnata 
in CC), sulla loro verticale, e chiusala con una lastra di cristallo, venne ad essa affacciato, 
dalla parte della sala d'osservazione, un cannocchiale C coll'asse ortogonale al muro. 
Il cannocchiale, per mezzo della colonna verticale D, è fissato al carretto E, il quale, 
guidato dalle due ruote scanalate FF e dalla ruota a toro G, è scorrevole sul sostegno H. 
