79 
duce ad una variazione più che sensibile nel valore delle parti del micrometro. Il 
sistema da noi adottato ovvia del tutto un siffatto inconveniente; esso può in realtà 
essere applicato anche in comparatori orizzontali, ma la sua applicazione ha la mas- 
sima semplicità in quelli verticali. D'altronde nei comparatori verticali, quando si 
adottano dei metodi di sospensione acconci per i prototipi da comparare, si evitano 
altresì le flessioni, e i contatti coi banchi di sostegno, e si lascia ai prototipi una 
completa libertà di dilatazione. L’ importanza di questi ultimi vantaggi non può 
sfuggire per certo a coloro che hanno avuto occasione di fare comparazioni di alta 
precisione, e di notare in conseguenza certe anomalie nei risultati e certe irregolarità 
nelle dilatazioni, che per la maggior parte debbono essere ascritte al modo con cui 
i prototipi vengono di solito sostenuti. Nel nostro caso dunque abbiamo eliminato 
l'errore di aggiustamento a vista aggiungendo due nuovi microscopî micrometrici, 
che diremo microscopî di spia, e che vengono fissati cogli assi in un piano verticale, 
inclinato su quello che contiene gli assi di collimazione dei microscopîì di misura: 
la inclinazione la più conveniente è di 90°. Tali nuovi microscopî, che nel nostro 
apparecchio sono sostenuti da armature fisse nel muro di sostegno dalla'parte della 
sala del pendolo, vengono disposti in modo che i loro assi siano rispettivamente 
diretti sui due punti osservati coi microscopî di misura quando a questi viene data 
la posizione di visibilità perfetta; in tal modo la verticale su cui debbono essere 
poi condotte le estremità dei prototipi da comparare resta fisicamente individuata. Il 
collocamento dei microscopî di spia nella loro giusta posizione si fa per mezzo del- 
l'osservazione dei due lembi dello stesso filo a piombo che ha servito a mettere in 
uno stesso piano verticale gli assi dei microscopî di misura. |. 
Stabiliti così i microscopî di misura e di spia, riesce molto semplice il deter- 
minare la distanza verticale fra gli zerî dei micrometri di misura; basta infatti 
collocare verticalmente nella stanza del pendolo un metro campione, di cui gli estremi 
da collimare siano puntati rispettivamente da ciascuna coppia di microscopî: la somma 
delle letture fatte coi micrometri dei microscopî di misura sulle estremità suddette 
del campione, o la loro differenza, ‘a seconda della disposizione data ai micrometri, dà 
appunto la differenza fra la lunghezza del campione (tenuto conto della temperatura 
di questo) e la distanza cercata, ammettendo che il valore delle parti dei micro- 
metri sia stata preventivamente determinata, o si determini contemporaneamente alla 
distanza suddetta per mezzo delle suddivisioni note del prototipo di misura. 
L’uso di metri a tratti richiede però, in generale, estreme precauzioni nell’illu- 
minazione, giacchè col variare dell'angolo d’incidenza della luce illuminante varia altresì 
la posizione apparente dei tratti. Noi, non possedendo per il momento microscopî ad 
illuminazione centrale e abbiamo, dopo lunghi tentativi, dovuto rinunciare all’uso di 
prototipi a tratti: naturalmente però abbiamo escluso altresì i metri a testate che 
nel caso nostro non erano applicabili. Il prototipo di cui ci siamo serviti esclusiva- 
mente nelle esperienze che qui pubblichiamo è composto di una verga d'acciaio, 
di cui il coefficiente di dilatazione verrà determinato coll’apparecchio di Fizeau ('); 
(') Lo studio preliminare del nostro apparecchio di Fizeau è stato fatto dal dott. Ascoli, e viene 
allegato alla presente Memoria, ma non abbiamo avuto tempo di compiere la determinazione del coef- 
ficiente di dilatazione indicato nel testo, determinazione che sarà annessa alle successive pubblica- 
